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12#
发表于 2009-9-28 03:22:46
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来自: 广东广州 来自 广东广州
对于G73之类的无铅算是受不了温度的偏差,与INTEL的BGA器件相比较,用相同的温度、同一环境、同一台“两温区”的返修台做测试,N的损坏,但I的还是正常。
用“三温区”的返修台N的在高温的条件下测试损坏的相对少点。I的损坏更少。
用风枪测试:在无铅要求的时间内达到温度经常是不能回流,提高温度时BGA的基板基本会起泡,或BGA“爆谷”。 |
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