发个完整的ST.7 40GB的校准流程，

会员25490

发个完整的ST.7 40GB的校准流程，
自己校准的硬盘，完整的回到了4E，在回写ATA模块，手动修改型号，容量，无坏道，用hdtune检查，加电时间是0，恢复到出厂状态的。

会员11148

看了，没有什么用处~~~~

会员25490

硬盘安装和伺服校正测试 .1 TEST 01 - 制造临时日志 .2 TEST 02 - 格式化和测试错误日志  磁头和电路校正测试 .1 TEST 03 - 伺服校正信息 .2 TEST 04 - 斜波加载/卸载测试 .3 TEST 05 - 传感器滞后测试 .4 TEST 06 - 磁头切换测试 .5 TEST 07 - RUNOUT补偿测试 .6 TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型 .7 TEST 09 - 磁头低飞显示 .8 TEST 0A - 磁头稳定性测试 .9 TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置 .10 TEST 0D - 重学RRO ZAP测试 .11 TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过） .12 适应性TEST 0F - 当前写测试 磁头和电路校正测试 .1 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头 .2 TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置 .3 TEST 2F - 显示FIR适应性设置 4.4 伺服性能验证测试 4. TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数 4. TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试 4. TEST 23 - 开始/停止 （10次） 4.4.4 TEST 24 - 开始/停止 （2000次） 4. TEST 29 - 伺服缺陷扫描  缺陷查找和再分配测试 .1 TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级 .2 TEST 31 - 楔形缺陷扫描. 磁头 0-1无读取级，50写级 .3 TEST 32 - 楔形缺陷扫描. 磁头 2-3无读取级，50写级 .4 TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位 .5 TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位 .6 TEST 3A-使用1重复读取所有磁头抛光和缺陷测试，重复50次 .7 TEST 3B- 建立缺陷表；填充受损磁头0，1 .8 TEST 3C- 建立缺陷表；填充受损磁头2，3 .9 TEST 3D- 建立缺陷表；填充受损磁头4，5 .10 TEST 3E- 建立缺陷表；填充受损磁头6，7 .11 TEST 3F- 回送测试，写通过测试 4.6 错误率性能测试 4.6.1 TEST 40- 开始/停止（10次） 4.6.2 TEST 41- 磁道侵入 4.6.3 TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿 4.6.4 TEST 43- RAM 测试 4.6.5 TEST 46- 数据编译比率 4.6.6 TEST 47- 冷写/磁道擦除显示 4.6.7 TEST 48- 错误率，写通过 4.6.8 TEST 49- 写/读/比较（零式样） 4.6.9 TEST 4A- 补偿系数检测 4.6.10 TEST 4B- 读 4.6.11 TEST 4B -所有磁道冷写显示 4.6.12 TEST 4C- 磁头飞行高度测量 4.6.13 TEST 4D- 收集自动FA数据 4.6.14 TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要 4.6.15 TEST 4F- 失败磁盘测试 4.6.16 TEST 50- 通过磁盘测试 4.7 特殊测试 4.7.1 TEST 51 - 错误率 4.7.2 TEST 52 - 磁盘组写RRO 测试 4.7.3. TEST 54- 拾取歪测 4.7.4 TEST 55 - 一百万随机读写 4.7.5 TEST 56 -写/读/比较（零式样） 4.7.6 TEST 61,62,63- 制造可靠性测试 4.7.7 TEST 64- 磁头稳定性测试 4.7.8 TEST65，66，67 - 媒体延时测试

会员31844

整个校准需要多长时间？

会员25490

12小时左右，40GB的盘

会员51956

就是时间太长了。。比较汗！

会员9122

校准流程完全不完全，感觉跟cert关系不大