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SD内存条金手指引脚功能定义
SD内存插槽测试点:1个供电、4个时钟、6个信号测试点
VCC:供电测试点,正常电压3.3V,由场管或橙色线提供
CLK0、CLK1、CLK2、CLK3:时钟测试点,频率66/100/133MHZ,电压1.1V-1.6V,由北桥或时钟芯片提供
6个信号测试点:
CAS#:列选信号
RAS#:行选信号
/WE#:允许信号(高电平允许读,低电平允许写)
/CS#:片选信号
SCL:串行时钟,SDA:串行数据,由南桥提供3.3V电压
DDR内存条金手指引脚功能定义
DDR内存插槽测试点:2个供电、6个时钟、6个信号测试点
VCC=2.5V,1.25V:供电测试点
CLK0、CLK1、CLK2、CLK3、CLK4、CLK5:时钟测试点,频率266/333/400MHZ,电压1.1V-1.6V,如果主板有两块时钟芯片,内存时钟由靠近内存的时钟芯片提供;如果只有一个时钟芯片,内存的时钟由北桥提供
6个信号测试点:
CAS:列选信号
RAS:行选信号
WE:允许信号(高电平允许读,低电平允许写)
CS:片选信号
SCL:串行时钟,SDA:串行数据,由南桥提供3.3V电压
D58、D56、D18等:是数据线,对地打阻值正常值300-800
APG引脚定义: 说明:上图所示为AGP槽的总线及重要测试点,其中8个信号测试点和PCI是一样的。
图中测试点的电压:12V由黄线提供,5.0V由红线提供,3.3V由橙线提供
RST:复位测试点,正常电压3.3V~0V
CLK:时钟测试点,正常电压1.1V~1.6V,66MHZ,P3主板多由北桥提供,P4主板大多由时钟芯片提供
VCC:表示直流电
VDDQ:电压识别脚,不同规格的AGP槽,VDDQ电压也不一样,2X显卡3.3V,4X显卡4.5V,8X显卡0.8V。 PCI引脚定义及测试点: 说明:上图中深色显示的表格为PCI槽的关键测试点,包括4个供电、1个时钟、1个复位、8个信号测试点
+12V、-12V、+3.3V、+5V:是四个供电测试点
RESET#:是复位测试点,正常电压3.3V~0V,低电平复位,高电平正常工作,370主板大多由南桥提供,478主板大多由南桥通过门电路提供。
CLK:是时候测试点,频率为33MHZ,正常电压1.1V~1.6V,由时钟芯片提供。
8个信号测试点:
FRAME#:帧周期信号
TRDY#:从设备准备好
IRDY#:主设备准备好
DEVSEL#:设备选择信号
C/BE#(0)、C/BE#(1)、C/BE(2)、C/BE(3),是命令/字节允许信号 ATX电源: 对地打阻值,370主板上值在300左右为正常,如果在100以下说明有轻微短路。478主板值相对较低,但不可能低到20以下。只要无数值说明短路。
通过测量电压、对地阻值,与正常主板比较,可找到故障部位,来判断某些大型集成芯片或电路中的某个回路是否存在亚重短路、断路
二、短路检修
1、橙3.3V线短路
要检查的元件有:时钟芯片、南北桥、I/O、特殊元器件,滤波巾片电容
2、红5V线短路
要检查的元件有:场管、电源管理芯片、I/O、特殊元件、串口芯片、声卡芯片、网卡芯片、滤波电解电容
3、黄12V线短路
要检查元件有:场管、电源管理芯片、特殊元件、串口芯片、滤波电解电容 |