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标题: HY512双面内存出错位测试 [打印本页]

作者: 子宁 时间: 2009-1-2 13:08
标题: HY512双面内存出错位测试
HY512M DDR400双面内存

单条是不着机的. 需用一条好的128的带起着机, 用RST测

0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

从上面的测试结果可以看到, 问题出于第7颗粒，但不知是正面还是背面！
先来个换位测试，把第7颗和第6颗的位置换一下，测得如下：
0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

现在看来问题在第5颗？但不可能，因为刚才换位后出错的位置发生改变了，也就是说明坏的那一颗就是6、7这两颗中的其中一颗/。找了一会没找到与坏芯片位数和容量一至的颗粒，所以没得换。先放着。

作者: 茄子 时间: 2009-1-3 17:02
标题: 回复 1# 子宁的帖子
没有看懂
但是我觉得没有必要那么麻烦的
一般反面出问题多一些

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