Ram Stress Test

会员457850

Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式，他其实是从其他的产品独立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！

　　使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量他都能测！！

　  若出现 ATS 选项错误，可在BIOS中，将记忆体（内存）选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过。
　　

操作方法：　

    程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试你CPU的L2 cache。

☆　可以测试SD及DDR内存。

☆　闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

依次代表内存条的8颗颗粒。

从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒vmavzk

☆　点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它（可解决部分点不亮问题）。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。


⒈DDR 8位与16位的单面测法:

⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏

⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏

⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏

⑷. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏

⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏

⑹. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏

⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏

⑻. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏

注意DR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8

⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:

1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------

16-32M -------------------------------------------------------------------------------------------------------

32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------

48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------

从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)

64-80M -----------------------------------------------------------------------------------------------------------

80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------

96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------

112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------

从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)

注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.

⒊SD的8位与16位的单面测法:

⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏

⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏

⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏

⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏

⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏

⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏

⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏

⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏

（注： PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意）

4.通过以上的介绍，说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照它们的排列循序来判断。

5.PCB板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码，说明这根内存的PCB板有问题。

会员39172

楼主能不能来图标明，这样看得人一头雾水！