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请帮忙确定是哪一个颗粒损坏(软件是RST)

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1#
发表于 2014-2-27 14:23:59 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式 来自: 安徽宿州 来自 安徽宿州

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本帖最后由 chujiafu 于 2014-2-27 14:26 编辑

本人有一根512M的锐邦牌双面DDR 1代内存,上面的标识为“512MB DDR 400MHZ,REB32Q8L2NG PC3200  CL=3”,颗粒型号是SAMSUNG 404    K4H560438E - TCB0,原先能正常使用,但放置了一段时间后,不能正常使用了,出现蓝屏。使用RST软件,分别用128M、256M、512M的单面母条和1G的双面母条测试,显示的错误不同。详见下图,请帮忙确定到底是哪一个或哪几个颗粒损坏了(每根母条用RST测试都是正常的)。










2#
发表于 2014-2-27 16:41:17 | 只看该作者 来自: 陕西西安 来自 陕西西安
先把第九个换了再说,测测再看,要是不行,再换第一个,要么底板坏了,得换底板哟,也有有可能内存没装好
多测几次,

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3#
发表于 2014-2-28 11:28:44 | 只看该作者 来自: 安徽宿州 来自 安徽宿州
谢谢楼上的兄弟。已经测了好几次了,都不过。

奇怪的是:为什么不同的母条显示的不一样呢?

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4#
发表于 2014-3-1 16:15:08 | 只看该作者 来自: 河南洛阳 来自 河南洛阳
有4位颗粒
所以有的是在背面

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