N卡2B、2R等故障的探讨和初步解决办法

会员195168

麦毅诚 发表于 2013-3-19 00:56

                               
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能不能通过修改BIOS跳过检测再用集显测试呢？楼上的方法应该不可行，屏蔽了现存测试软件也就不会检测那部分 ...

      从理论上来讲是可行的。因为有显存不良导致BIOS运行不下去。如果将故障显存屏蔽了，问题也就解决了。但是实际操作起来有诸多麻烦：不知道故障显存的位置，如果显卡有4个区，起码要具备封闭了每一个不同区位的BIOS，挨个来实验。如果刷了个BIOS还是不行，那么到底是BIOS的问题，还是选择封闭的区位不对？就很难以判断。其次，如果有两片以上不同区位中的显存都不良，那么如何办呢？这样假设下去，就不是3-4个不同的BIOS能解决的了。
    你的思路是很完美的解决办法，通过修改BIOS，让其不受故障显存的影响，照样能够点亮。那么问题就彻底解决了。现在据我所知，就有人在做着这个方面的实验。祝愿早日成功。这个方案是否可行？我以为是可行的，因为以前的卡像76、85、86什么的基本没有这种显存不好导致2R等的故障。就是现在的G92等核心，虽然这种情况很多，但是也不是绝对的，有些就和老的卡一样，显存哪怕拆光了照样能亮。

会员126479

海韵之恋 发表于 2013-3-18 22:57

                               
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之前讲的改BIOS屏蔽部分显存再测,应该能测出部分2R问题.

那么爽 发个玩玩 不用整天搞屏蔽.

会员31244

可怜现在连个测试软件都找不到！谈何研究！