由于QFN的焊点是在封装体的下方,并且厚度较薄,X-Ray对QFN焊点少锡和开路无法检测,只能依靠外部的焊点的情况尽可能地加以判断,但由于器件的引脚配置形式不同,F部分在IPC标准中是一个无法指定的部分(Unspecified parameter or variable in size as determined by design):(如下图5)
从X-Ray图像可见,F部分的差别是明显的,但真正影响到焊点性能的G部分的图像则是相同的,所以这就给X-Ray检测判断带来了问题。用电烙铁加锡,增加的只是F部分,对G部分到底有多大影响,X-Ray仍无法判断。就焊点外观局部放大的照片来看,F部分仍有明显的填充(fillet)部分。(如下图6)