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标题: 联想K42G，待机0.05，按开关到0.06瞬间掉电，维修过程 [打印本页]

作者: glboy138 时间: 2014-12-7 14:03
标题: 联想K42G，待机0.05，按开关到0.06瞬间掉电，维修过程
联想K42G，待机0.05，按开关到0.06瞬间掉电，仁宝的主板，待机0.05，测3.3/5V电压正常，也没干扰，测南桥有发出分组供电信号，然后测了所有分组供电，用示波器测所有分组供电的上管S极在按开关瞬间都有波形，也觉得分组芯片是好的，由于瞬间掉电，怀疑共公点或者待机电压在按开关是被拉低了，最后查到5V待机在按开关时被拉低，通过拆与其相连的元件，找到了损坏的原件OZ813LN，一个分组芯片损坏，更换后正常，这芯片在待机时是正常的，按开关上管也发出了瞬间方波，所以一开始就觉得是好的。遇到这种情况不知道大家有没有更好更快的方法能找到损坏的原件呢，因这个问题用了一定的时间才找出来的。

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作者: 贾进飞 时间: 2014-12-7 14:48
打电感后端波形比较直观，要不然打g级波形，看下占空比是不是正常

作者: 744193807 时间: 2014-12-7 15:01
芯片性能不良？这种问题确实不好找，

作者: Samsug 时间: 2014-12-7 15:08
这种抓波形对比应该比较直观

作者: 爱尔思坛 时间: 2014-12-7 15:53
掉电时间太短了，根本没有测量的机会。也只能代换试了。

作者: 耀远a 时间: 2014-12-7 15:55
新手路过,努力学习中！

作者: glboy138 时间: 2014-12-7 17:44
示波器可以明显测到5V被拉低的

作者: 明达明 时间: 2014-12-7 20:05
这种芯片不良的确实没什么快捷方式

作者: 37373358 时间: 2014-12-10 20:38
示波器测试会很明显一点，，我也是这样测试的

作者: 维小本 时间: 2014-12-10 21:42
芯片性能不良确实不好测

作者: huntel99 时间: 2014-12-10 22:39

爱尔思坛发表于 2014-12-7 15:53
掉电时间太短了，根本没有测量的机会。也只能代换试了。

掉电这种可以用波抓取的，嘿嘿，用表当然测不到

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