迅维网

标题: MT写测试的原理(转) [打印本页]

作者: 孤帆远影 时间: 2007-6-1 16:51
标题: MT写测试的原理(转)
MT写测试的原理是把1E模块做一个拷贝
放到SWAP区里
做硬盘读写轨道同一性的测试
如果在SWAP区可以读到1E模块的拷贝
就返回值0，如果找不到，就开始在附近的区域找1E模块的拷贝
具体表现为写测试跑数
测试跑数表明硬盘的状况是读写不在统一轨道上
具体原因是编译器有问题

注:看了此帖就知道了,为什么在写测试没有通过的时候不能随便写入固件.因为次时写入的目标会发生偏移.盘会越修越坏
初学者千万要谨记!!!!!!!

那么此时如果要修这只盘的话,该怎么办呢?

常见的办法是换LDR加载,为硬盘创造一个最佳的.匹配的写环境.(所以在修盘的时候要经常备份好盘的固件,我都备份了4G的)
如果怎么换都不行,那我认为应该是编译适配模块出问题了,就不好办了(我见过一个高手通过反复写一些模组,使写测试返回正常值.但不知道原理是什么)

作者: weiqigo 时间: 2007-6-1 20:01
原来可以换LDR试

作者: 大霖 时间: 2007-7-27 18:07
LDR可以随意换吗？是不是看校验对了就是找对LDR？

作者: 孤帆远影 时间: 2007-7-27 18:13
效验一样一般可以换着用

欢迎光临迅维网 (https://www.chinafix.com/)