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标题: 硬盘维修资料(2) [打印本页]

作者: 无忧书生 时间: 2008-7-13 10:09
标题: 硬盘维修资料(2)
配置表与工作程序一样，是以模块的形式被配置在硬盘的服务区内，也包括标题、模块主体（表格）和检测总数区。在鉴别硬盘时，配置表以同样的方式加载到微处理器的缓冲存储器之中，并计算和检查检测总数。配置表和工作程序一样，对硬盘的工作是至关重要的。通常情况下，一旦配置表发生损坏，那么硬盘在计算机的BIOS中便无法得到鉴别和确认，或者在鉴别过程中，所显示的硬盘容量、型号、名称及批号会出现错误等。

缺陷表。目前的生产技术还不能够确保所生产的每一个磁盘没有任何缺陷。由于载体材料的非单一性、抛光打磨上的缺陷，以及在制作磁层时介入杂质等因素，都有可能使硬盘的某些区域在读写过程中产生错误。
带ST506/412接口的老式硬盘，其缺陷磁道标示贴在密封硬盘的外壳上，而且每一个硬盘都有一个备用容量，如20mbit的ST225型硬盘实际上有21.5mbit的容量，也就是说有1.5mbit的容量是用来供坏扇区和坏道使用的。现在市场上流行的硬盘也有一个富余容量，用来将工作区中的坏扇区和坏道与备用区的正常扇区和磁道进行替换。在使用了这样一种替换机制以后，即使在磁盘工作区的磁表面上出现大块区域的缺陷，硬盘的总体容量也不会减少。为了进行这样的替换，硬盘中有一个专门的缺陷隐含程序，叫做“Defect
Management”（缺陷管理）程序。该程序运行的主要目的是发现硬盘中所有磁盘上的缺陷区域，然后再将其放置在一种名曰“缺陷表”的专门表格之中。之后，再对逻辑空间向物理空间进行转换的系统进行重新计算，这样一来也就隐含了缺陷。
缺陷表是在生产厂家的厂内试验过程中填写的。厂家发现的所有“坏”扇区序号均被填写在该表之中。这种操作被称为“更新（隐含）缺陷”（UPDATE

DEFECT）。这样，当硬盘工作时，如需访问被隐含的缺陷扇区，那么，硬盘会变更访问的地址，将访问指向备用区。所以，目前由生产厂家推出的最新型硬盘，在用户数据区内是没有缺陷扇面的。
大部分型号的硬盘都有两个缺陷表，即初始缺陷表(Primary或P-List)和生长缺陷表（Grown
或G-List）。初始缺陷表由生产厂家在进行工厂内部检测——SELFSCAN (intelligent burn-in)过程中填写。生长缺陷表不由厂家填写，是用来填写在硬盘使用过程中所发现的缺陷。因此，几乎所有硬盘的用户指令表中有一个叫“Assign”的指令，通过该指令就可以将对坏扇区的访问转向备用区。这一指令被许多检测程序所使用，其中包括厂家所推荐的修复硬盘坏扇区程序。在“Western Digital”（西数）硬盘中，有一种“Data Lifeguard”（数据救生）系统，可以在硬盘没有访问时重新指定坏扇区。为此，硬盘要对磁盘的表面进行自我检测，并将用户数据挪到备用区内，有缺陷的扇区被打上“BAD”（坏）标志。从隐含缺陷的类型上讲，这种方法与给出“Assign”指令一致。“富士”、“昆腾”、“迈拓”和“IBM”硬盘可以在“写”的过程中自动隐含缺陷，也就是说，数据是写入缺陷扇区，但硬盘本身可以将访问重新指向备用区，这时，缺陷扇区被打上“BAD”标志，其编号被填写到G-List表中。
工作记录表包含硬盘生产和运行过程中的一些辅助信息（如检测结果、检测程序运行记录等）。通常情况下，这些表格内容并不重要，而且在一般用户工作状态下，它们的损坏并不会影响到硬盘的工作。但是，这些模块在用户准备对硬盘进行二次使用（刷新），以及执行“SelfScan”和
“Calibrator”等操作时会需要。

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再传个有用的固件

作者: 智盟 时间: 2008-8-28 20:19
都是理论上的东西，貌似平时恢复没什么用

作者: 谢洪福 时间: 2008-8-30 10:58

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