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标题: 惠普暗影精灵8开机不正常南桥故障一例 [打印本页]
作者: u1524117 时间: 2025-6-9 18:31
标题: 惠普暗影精灵8开机不正常南桥故障一例
本帖最后由 u1524117 于 2025-6-9 18:41 编辑
接修一台惠普暗影精灵8笔记本，机型为TPN-Q266 板号：DA0G3LMBCG0 REV:G
机主自述玩游戏时机器会突然卡顿，最近突然出现开机不正常，有时能够进系统重启后就黑屏无响应，接手检查发现的确开机不正常，多次开机偶尔有一次亮机，但是卡顿严重，无法进入系统，在不亮屏时插上外接键盘按压小键盘切换键有反应，于是怀疑和显卡有关，拆机检查显卡和显存供电正常，检查屏供电正常，用示波器检测各路供电波形正常，在反复试机时发现装在主板上的M.2硬盘发热异常，用手都无法触摸，考虑到无法进入系统，心想这个硬盘也不稳定可能已经损坏，但是接到外置硬盘盒上在其他电脑测试温度完全正常读写正常，装到笔记本上就严重发热，再检查硬盘3.3V供电，波形电压都正常，再用手按压测试南桥，感觉南桥温度也偏高，于是怀疑南桥异常，幸好手上有一颗拆机的相同南桥芯片SRKMA，
于是植株更换南桥，换完南桥开机测试，机器顺利点亮，反复测试都能够点亮，由于更换南桥开机无法自检到硬盘，刷上工程bios，屏幕报错
Manufacture Programming Mode is in Unlock Mode
但硬盘已经能够检测到，随即正常进入系统，
这时在触摸硬盘发现温度也完全正常，上论坛查询发现也有相关故障描述，对比我这台故障笔记本最直接的感受就是固态硬盘温度的严重异常，希望给相关故障机型维修的同行提供更多的判断方法避免走弯路。
附工厂bios：
DA0G3LMBCG0.bin
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