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标题: SY8286CRAC_QFN20_3X3芯片检测步骤 [打印本页]

作者: 飞跃宇宙1 时间: 2018-11-6 18:17
标题: SY8286CRAC_QFN20_3X3芯片检测步骤

SY8286CRAC_QFN20_3X3芯片检测步骤

1、检查主供电是否正常：(2)、（3）、（4）、（5）、（11）脚VIN是否为+19 V；

2、检查芯片基准电压是否正常：(15)LDO是否有5V左右电压；（否则坏，当然要注意该脚滤波电容漏电）

3、检查芯片开启信号是否正常：(12)EN是否为3.2V电压；（若为0V则检查EC待机条件，若EC损坏，则此时断开EC，将3V芯片的12、17脚相连，只要后级电路正常就应该有3V、5V电压输出。）

4、用示波器检查6、19、20脚是否有持续的震荡脉冲输出（峰峰值大约为20~25v）

5、检查与6脚相连的大电感后端是否有5V电压输出，否则查负反馈（13）脚和自举电压端子（1）脚以及管脚上所接的元件。

6、（9）为芯片电源好信号输出端子，当芯片正常工作时产生幅值为3.3V的+5V_PWRGD信号

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作者: hanshao1032 时间: 2018-11-6 19:20
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