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写入耐久度是固态硬盘的重要可靠性指标之一。由于闪存自身特点，储存的数据不能覆盖写入，改写时必须先擦除整个区块然后再进行写入，而闪存可擦除的次数有限，基本上固态硬盘的可用寿命就是由写入量来决定了。今天为大家介绍的是业界如何标定固态硬盘的耐久度指标。
固态硬盘所用的闪存晶圆 从结构来说，闪存已经经历了从SLC、MLC到TLC的主流转换，带动固态硬盘从大众高攀不起降到了走进千家万户的普及，固态硬盘已经不再是高玩的小众专属。闪存运用保存在Floating Gate中的电子来保存数据，随着储存密度的增加，每个储存单元需要表达的数据从2个状态、4个状态提升到现在TLC的8个状态，对于ECC纠错技术也提出了更高的要求。
SLC、MLC、TLC的数据表达 Toshiba是较晚将TLC闪存使用在消费级固态硬盘产品当中的，首款产品被命名为Q300，当前市售Q300.实际上已经是第二代产品，在型号中多了一个英文句号后缀。
ToshibaQ300固态硬盘 当前市售Q300.的参数表如下：提供从120G到960G的容量可供选择，ToshibaTC58NC1000主控搭配Toshiba原厂15nm TLC闪存，运用适应性最广的SATA3.0接口。
Q300主控与闪存信息 下面我们来看作为闪存发明者的Toshiba是如何标识Q300的耐久度或者说可靠度的，主要涉及到了MTTF（平均失效前时间）和TBW（TeraBytes Written或Total Bytes Written）两个指标：ToshibaQ300的MTTF为150万小时，TBW则依容量不一样从30TB到240TB不等。
Toshiba Q300 Spec 在介绍MTTF（平均失效前时间）之前首先要介绍一下MTBF（平均问题间隔时间）。在工业领域MTBF运用广泛，它表达了产品在一定时间内保持正常工作不出问题的能力。
MTBF 一般来说，企业级固态硬盘要求问题间隔时间应在100万小时以上，这不是说固态硬盘用到100万小时一定会坏，也不是说100万小时以前一定不会坏，而是一个问题概率指标，对于大容量样本时有参考价值。
除了MTTF之外，固态硬盘还会运用TBW来表达写入耐久度，TBW可以是TeraBytes Written或Total Bytes Written的缩写，总之它表达的是固态硬盘闪存可以承受多大数据写入量。不一样厂商对于TBW的标称方式是不一样的，Toshiba选择的是遵循JESD219标准的工作负载进行评价，标称的数值针对主机写入量，而不是闪存实际写入量。一般来说由于写入放大特点的存在，闪存实际写入量是大于主机写入量的，所以尽管看起来Q300的TBW指标不高，但实际闪存寿命是有保障的。 按照JESD219规范，消费级固态硬盘开机状态测验条件为40摄氏度环境，每天8小时工作负载，当关机断电后，放置在30摄氏度环境下，闪存内储存的数据至少应保持1年以上。
JESD219 不少媒体测验固态硬盘耐久度时选择只管写入不管能否读出的策略，测出的耐久度数值很好看，然而却并没有卵用——在彻底写挂之前闪存写入的数据已经不可靠了。 ToshibaQ300 120GB的官方标称耐久度指标是30TB，这是在苛刻随机写入（写入放大很高）的情况下进行的，每天写入28GB至少可以用3年，而大容量型号的写入指标则会随容量提升而翻倍增长，所以当前对于TLC固态硬盘而言，耐久度已经不是问题。 标称值仅是一个保底标准，而实际工作运用能达成更高的成绩。国内PCEVA论坛对ToshibaQ300马甲产品——TR150的耐久度测验就进行到了3000PE以上才终结。下图中F1项Total Host Write（主机写入量）的单位是32MB，显示值约合384250GB，是120GB容量的3202倍。
写入3000PE之后的TR150 SMART信息截图 |
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